Study and characterization of Si nanocrystals in dielectric matrix

FICCADENTI, Marco
2010-07-28

28-lug-2010
Settore FIS/01 - Fisica Sperimentale
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11581/401850
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact