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EnglishHigh resolution photoemission core level spectroscopy study and TEM analysis of the Ge/As/Si(001) / GUNNELLA R.; DE PADOVA P.; LARCIPRETE R.; QUARESIMA C.; REGINELLI A.; FERRARI L.; PERFETTI P.; YU-ZHANG K.; LEPRINCE-WANG Y.. - In: SURFACE SCIENCE. - ISSN 0039-6028. - STAMPA. - 482-485:0(2001), pp. 574-579.
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| Titolo: | High resolution photoemission core level spectroscopy study and TEM analysis of the Ge/As/Si(001) |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2001 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11581/7146 |
| Appare nelle tipologie: | Articolo |
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