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EnglishDistinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy / SHARP T.; WU Z.; SEIFERT F.; POE B.; DOERR M.; PARIS E.. - In: PHYSICS AND CHEMISTRY OF MINERALS. - ISSN 0342-1791. - 23:1(1996), pp. 14-24.
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| Titolo: | Distinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 1996 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11581/225694 |
| Appare nelle tipologie: | Articolo |
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http://hdl.handle.net/11581/225694
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