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EnglishThe As/Si(111) surface studied by angle scanned low energy photoelectron diffraction / R. Gunnella; E. L. Bullock; C. R. Natoli; R.I.G. Uhrberg; L. S.O. Johansson. - In: SURFACE SCIENCE. - ISSN 0039-6028. - 352:0(1996), pp. 332-336.
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| Titolo: | The As/Si(111) surface studied by angle scanned low energy photoelectron diffraction |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 1996 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11581/214267 |
| Appare nelle tipologie: | Articolo |
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http://hdl.handle.net/11581/214267
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